25 abr 2017

Minicursos sobre o potencial da técnica de difratometria de Raios X em amostras policristalinas

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Em julho de 2017, entre os dias 10 e 21 serão ministrados minicursos sobre o potencial da técnica de difratometria de Raios X em amostras policristalinas. Esses cursos serão ministrados pelos Drs. Carlos O.P. Santos (Unesp-Araraquara-sP), Selma A.Gutierrez (Unesp-Arararaqua-SP) e Alexandre Cuin (ICE-UFJF-MG) no departamento de Química do Instituto de Ciências Exatas da UFJF.

As inscrições serão limitadas a apenas 28 vagas, devido à limitação das licenças do programa TOPAS. Recomendamos aos interessados em participar dos cursos a visitar nosso website: http://labcacc.net.br/CMC-2/ para mais informações a respeito das ementas, custos, vagas, inscrições.

Não hesite em nos contactar pelos e-mails: alexandre.cuin@ufjf.edu.br ou alexandre_cuin@yahoo.com e charlane.cimini@ufjf.edu.br.


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